617  晶体光学考试大纲

一、考试性质与范围

《晶体光学》是地质学专业硕士研究生的入学专业基础考试课程。主要考查学生对《晶体光学》基本概念和基本原理的掌握，以及是否具备运用偏光显微镜，在单偏光系统、正交偏光系统和锥光（聚敛偏光）系统下观察和鉴定透明矿物晶体光学性质的基本能力。考试范围包括晶体光学基础、光率体和光性方位、偏光显微镜原理与调节，以及单偏光、正交偏光和锥光（聚敛偏光）系统下晶体的光学性质与测定方法。

二、考试基本要求

考试题目类型因年而异，包括名词解释、选择、填空、判断正误、公式推导、作图、简答和分析论述等不同形式。

考生需要携带铅笔、橡皮、直尺、圆规和量角器。

三、考试形式与分值

本课程由学校自行命题，全国统一考试。采用闭卷笔试形式，考试时间为180分钟，满分为150分。

四、考试内容

1. 晶体光学基础

（1）光的性质与传播；（2）自然光和偏光；（3）光的折射与全反射；（4）折射率与折射率仪；（5）光的双折射；（6）一轴晶和二轴晶

2. 光率体和光性方位

（1）光率体；（2）一轴晶光率体；（3）二轴晶光率体；（4）光率体的主要参数；（5）光性方位

3. 偏光显微镜原理与调节

（1）偏光显微镜的构造；（2）偏光显微镜的光学系统；（3）偏光显微镜的调节；（4）薄片的制作

4. 单偏光系统下晶体的光学性质

（1）形态；（2）解理；（3）颜色；（4）多色性；（5）吸收性；（6）边缘；（7）贝克线；（8）糙面；（9）突起

5. 正交偏光系统下晶体的光学性质

（1）消光现象；（2）消光类型与消光角；（3）干涉原理；（4）干涉色；（5）干涉色级序的确定；（6）补色原理与补色器；（7）延性；（8）双晶

6. 锥光（聚敛偏光）系统下晶体的光学性质

（1）锥光（聚敛偏光）系统；（2）一轴晶的干涉图；（3）二轴晶的干涉图；（4）光性

7. 晶体光学应用

（1）单偏光系统下的性质测定：包括晶形、颜色或多色性、突起与糙面、解理及解理夹角等；

（2）正交偏光系统下的性质测定：包括最高干涉色、最大双折射率、消光类型及消光角、延性符号、多色性和吸收性公式、异常干涉色等；

（3）锥光（聚敛偏光）系统下的性质测定：包括按干涉图类型确定矿物的轴性、测定光性符号、估计光轴角大小等